电容器荧光光纤测温

发表时间: 2019-11-08 13:32:24

作者: 福州英诺电子科技有限公司


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干式电容器由电容器芯子、外壳、套管和其他附件组成。电容器芯子由电容器元件和绝缘件组成。电容器元件由一定厚度和层数的薄膜绝缘介质和铝箔电极卷绕制成,也有在薄膜上蒸镀一层金属组成金属化膜,元件卷好后装入元件外壳内,将若干个电容器元件串、并联起来形成整个电容器芯子。
干式电容器通常在室内或地下使用,通风条件差,而电容器内部只能依靠气体散热,与油浸式电容器比,气体的换热系数较低,因此干式电容器的散热性能较差。这些都对干式电容器的运行产生不利的影响。电力系统运行实践表明,电容器的故障率每年 6-9月份明显高于其他月份。有的地区电力行业规定 :全膜电容器芯子最热点温度不得高于80℃。温度超过 80℃时,作为电介质的聚丙烯薄膜 (pp 膜 ) 绝缘性能会有所下降。
目前,干式电容器温度场一般用传统的温度传感器测量电容器外壳的温度,再计算内部温度,这样得到的温度值与电容器内部温度场的分布状况有误差,不能准确获得温度最高点的真实温度。

目前针对电力电容器内部保护用熔丝温度测量方法包括温升试验,但该试验仅通过测量内熔丝电流及电阻以估算内熔丝温升,其准确性较差,且在实际给内熔丝通流过程中,内熔丝的电阻会随其温度的变化而变化,一方面难以保证其通流恒定,另一方面,内熔丝电阻与温度的对应关系只适用于一定温度范围之内,超过该范围将难以得出准确结果,故这种间接测量电容器内熔丝温升的方法具有局限性,且准确度不高。另外,通过热电阻对内熔丝温升进行测量,但由于热电阻无论是在体积还是在直径上均远远大于内熔丝,其在接触测量内熔丝温度过程中将对内熔丝实际温度造成影响,测量准确性更差。鉴于此,有必要设计出简单可行的测量装置,以便准确掌握电容器内熔丝在实际运行条件下的温度,为电容器内熔丝的设计选型提供依据,并有效提高内熔丝保护动作可靠性,确保内熔丝温度不会对电容器内部绝缘造成损伤。

红外热成像仪测温的缺点

目前对电容器的发热检修主要通过红外成像仪巡检,但红外热像不能测试封闭环境内的温度,及测试结果受季节、时辰和测试设备表面光洁度的影响,红外测试设备昂贵,且不能长时间连续监测高压电气设备的温度。在电容器上有着高压,周围有很强的电磁干扰,导致传统的探测器误报、漏报的现象时常发生。为此,需要高可靠、高性能的温度传感器对电容器的温度进行实时有效监测,避免设备烧毁及停电事故发生。

另外目前测温设备并不能检测电容器内具体方位温度。现有的电容器使用环境温度变化较大,在异常温度下长时间使用电容器,会严重影响电容器的使用寿命,增加电容器的损坏率。

电容器光纤测温系统

英诺科技电容器荧光光纤测温系统既解决了传统温度传感器无法对细小内熔丝进行精确温度测量的问题,又解决了强电与弱电的电位隔离以及数据通信的抗电磁干扰问题,为全面精确掌握电容器内部芯子热点温度提供了很好的解决方案 。

光纤测温监控主机中安装有测温报警软件,监控计算机通过通信口采集光纤温度信号解调仪传输的温度信息。实时显示各个测温点的温度数据,测温报警软件提供分级监测、温度曲线绘制、温度分布显示、历史曲线查询、报表生成和打印等功能 ;


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